KEYENCE基恩士VK-X3000形状测量激光显微系统结合激光共聚焦、聚焦变化与白光干涉三种扫描方式，实现纳米至毫米级高精度测量。搭载0.1nm线性标尺与16bit高分辨率感应，支持125Hz快速扫描，配备自动对焦与上下限设定功能，提升测量效率与准确性。内置292种分析 ...